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微仪光电超分辨显微成像系统，分为两种：一种是脉冲型STED超分辨成像系统（可升级 FLIM荧光寿命成像 ），另一种是低功率DE-STED超分辨成像系统。目前两种类型的STED超分辨成像系统激发波长均为635nm，擦除光波长为750nm。两种系统均可以实现二维和三维扫描等多种成像模式；脉冲型STED可以实时输出超分辨成像结果，DE-STED需要通过软件可实现1S内超分辨图像输出，像素为：513*512
激发光波长 | 635 nm (可根据用户需要选择激光器) |
擦除光波长 | 750 nm (擦除光也可以选592nm和660 nm) |
探测器 | APD或PMT |
*大成像速度（常规振镜） | ≥2fps 512*512 像素 |
扫描方式 | XY扫描 升级硬件可实现XYZ三维扫描 |
分辨率 | 横向 35 nm（脉冲STED）/ 82 nm （DE-STED） |
视场 | 170 μm*170μm |
显微镜 | 倒置 (根据需要选配) |
物镜 | 平场复消色差100倍油镜（其他物镜根据需求自行选择） |
载物态 | 手动 （可根据需要升级为电动） |
工作站 | Windows 10以上的系统，硬盘*少1T, 内存*少16G |
成像软件 | 基于Labview 或者 MATLAB, 可供用户选择 |
防震平台 | 主动防震 120 cm*100 cm |
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